《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》國際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)?ISSN：1063-8210，電子期刊的國際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)：1557-9999。

創(chuàng)刊時(shí)間：1993年

出版周期：Bimonthly

出版語言：English

國際簡稱：IEEE T VLSI SYST

研究方向：工程技術(shù) - 工程：電子與電氣

期刊定位與內(nèi)容：

超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)(Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程技術(shù)-工程：電子與電氣相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1993年，出版周期Bimonthly。

《超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)》發(fā)表專家撰寫的簡短易懂的評(píng)論，重點(diǎn)介紹計(jì)算機(jī)：硬件的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對(duì)該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報(bào)》是一份月刊，由 IEEE 電路與系統(tǒng)學(xué)會(huì)、IEEE 計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)和 IEEE 固態(tài)電路學(xué)會(huì)共同贊助出版。

使用 VLSI/ULSI 技術(shù)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)微電子系統(tǒng)需要系統(tǒng)架構(gòu)、邏輯和電路設(shè)計(jì)、芯片和晶圓制造、封裝、測試和系統(tǒng)應(yīng)用等領(lǐng)域的科學(xué)家和工程師密切合作。必須在所有抽象級(jí)別（包括系統(tǒng)、寄存器傳輸、邏輯、電路、晶體管和工藝級(jí)別）生成規(guī)范、設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。

為了通過一個(gè)共同的論壇解決這一關(guān)鍵領(lǐng)域，IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報(bào)應(yīng)運(yùn)而生。由國際專家組成的編輯委員會(huì)誠邀提交原創(chuàng)論文，這些論文強(qiáng)調(diào)并贊揚(yáng)微電子系統(tǒng)的新系統(tǒng)集成方面，包括系統(tǒng)設(shè)計(jì)和分區(qū)、邏輯和內(nèi)存設(shè)計(jì)、數(shù)字和模擬電路設(shè)計(jì)、布局綜合、CAD 工具、芯片和晶圓制造、測試和封裝以及系統(tǒng)級(jí)鑒定之間的相互作用。因此，這些交易的報(bào)道將集中在 VLSI/ULSI 微電子系統(tǒng)集成上。

出版周期與發(fā)文量：

該雜志出版周期Bimonthly。近年來，該期刊的年發(fā)文量約為241篇。

學(xué)術(shù)影響力：

2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q2，2023年發(fā)布的影響因子為2.8，CiteScore指數(shù)6.4，SJR指數(shù)0.937。本刊非開放獲取期刊。

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