首頁(yè) > 期刊 > 自然科學(xué)與工程技術(shù) > 工程科技II > 儀器儀表工業(yè) > 納米技術(shù)與精密工程 > 微懸臂梁彎曲法測(cè)量3C-SiC薄膜斷裂強(qiáng)度 【正文】
摘要:針對(duì)惡劣環(huán)境下MEMS對(duì)高強(qiáng)度材料的需求,采用化學(xué)氣相沉積(CVD)外延生長(zhǎng)3C-SiC薄膜.利用微力學(xué)操縱系統(tǒng),對(duì)3C-SiC微懸臂梁進(jìn)行了彎曲實(shí)驗(yàn).利用厚板結(jié)構(gòu)的有限元仿真和威布爾統(tǒng)計(jì),得到3C-SiC薄膜斷裂強(qiáng)度.結(jié)果表明:不同尺寸3C-SiC微懸臂梁威布爾特征強(qiáng)度為1 852.15 MPa、2 554.56 MPa、2 598.39 MPa、2 911.64 MPa,威布爾模數(shù)分別為9.547、11.541、18.909、20.733.斷裂強(qiáng)度隨微懸臂梁寬度增加而減小,威布爾模數(shù)也減小,分析認(rèn)為:結(jié)構(gòu)尺寸越大的微懸臂梁,含有的生長(zhǎng)缺陷(如孔洞、裂紋等)越多,造成其斷裂強(qiáng)度越低.
注:因版權(quán)方要求,不能公開全文,如需全文,請(qǐng)咨詢雜志社
主管單位:Ministry of Education of the People’s Republic of China;主辦單位:Tianjin;University;Chinese;Society;of;Micro-Nano;Technology