首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術(shù) > 工程科技II > 核科學技術(shù) > 輻射研究與輻射工藝學報 > 寬頻電磁脈沖輻照對上皮細胞凋亡損傷的影響 【正文】
寬頻電磁脈沖輻照對上皮細胞凋亡損傷的影響
楊瑜; 王向暉; 齊紅星; 張杰 華東師范大學物理與材料科學學院生物物理實驗室; 上海200241
- 寬頻電磁脈沖
- 細胞凋亡
- 方差分析
摘要：研究寬頻電磁脈沖(Wide-band electromagnetic pulse,WEMP)輻照對正常細胞的損傷作用,尋找輻照參數(shù)與細胞凋亡之間的作用規(guī)律,為探索WEMP輻照損傷機理模型提供實驗依據(jù).利用Cell Counting Kit-8檢測WEMP輻照后細胞的活力變化,采用流式細胞術(shù)分析細胞凋亡損傷情況,利用統(tǒng)計分析和數(shù)據(jù)擬合的方法探討WEMP場強、脈沖個數(shù)與細胞凋亡之間的作用規(guī)律.結(jié)果表明,在本實驗條件下,場強與脈沖個數(shù)都是引起人羊膜上皮細胞(AECs)凋亡率增加的因素,其中,電場強度為主要因素,脈沖個數(shù)為次要因素,兩者之間存在交互作用.細胞凋亡率與電場強度之間呈現(xiàn)出Logistic函數(shù)規(guī)律.
- 寬頻電磁脈沖
- 細胞凋亡
- 方差分析
摘要：研究寬頻電磁脈沖(Wide-band electromagnetic pulse,WEMP)輻照對正常細胞的損傷作用,尋找輻照參數(shù)與細胞凋亡之間的作用規(guī)律,為探索WEMP輻照損傷機理模型提供實驗依據(jù).利用Cell Counting Kit-8檢測WEMP輻照后細胞的活力變化,采用流式細胞術(shù)分析細胞凋亡損傷情況,利用統(tǒng)計分析和數(shù)據(jù)擬合的方法探討WEMP場強、脈沖個數(shù)與細胞凋亡之間的作用規(guī)律.結(jié)果表明,在本實驗條件下,場強與脈沖個數(shù)都是引起人羊膜上皮細胞(AECs)凋亡率增加的因素,其中,電場強度為主要因素,脈沖個數(shù)為次要因素,兩者之間存在交互作用.細胞凋亡率與電場強度之間呈現(xiàn)出Logistic函數(shù)規(guī)律.
注：因版權(quán)方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社
